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　　检测常识

【射线照相工艺要点】　>>返回上一页

　　①照相操作步骤：把被检的物体安放在离X射线装置或γ射线装置500mm以上的位置处，将胶片盒紧贴在被检物体的背后，让射线照射适当的时间进行曝光。把曝光后的胶片在暗室进行显影、定影、水洗和干燥后得到射线底片，将底片放在观片灯上进行观察，根据底片的黑度和图象来判断存在缺陷的种类、大小和数量，按相关标准对缺陷进行评定和分级。这是射线照相探伤的一般步骤。按射线源、
工件和胶片之间的相互位置关系，透照方式分为纵缝透照法、环缝外透法、环缝内透法、双壁单影法和双壁双影法五种。附件1 其中双壁单影法用于小直径的容器或大口径管子焊缝；双壁双影用于Φ89
以下管子对接焊缝。

　　②照相规范的确定：要得到好的射线照相底片，除了合理的选择透照方式外，还必须选择好的透照规范，使小缺陷能够在底片上尽可能明显地辨别出来，就是说照相要达到高灵敏度。为了达到这一目的，除了选择质量好的细颗粒胶片外，还要取得好的射线照相对比度和清晰度。

　　射线照相清晰度：

　　是指底片上的图象的清晰程度，它主要由两部分组成，即固有不清晰度Ui和几何不清晰度Ug，X射线管的焦点和γ射线源是有一定大小的，由于射线源具有一定的大小，在缺陷的图象周围就产生半影，假如缺陷横向尺寸较小时，缺陷图象就会淹没于半影中，缺陷就难以看清了。缺陷的最大半影尺寸称为缺陷的几何不清晰度。几何不清晰度Ug表示式：Ug=b*df/F-b
　　b—工件表面到胶片的距离
　　df—射线源的大小（焦点尺寸）
　　F—焦距（射线源到胶片的距离）
　　从式中看出，射线源到胶片的距离F愈大半影愈小；射线源尺寸df愈小，半影愈小，b（工件表面到胶片的距离）愈小，半影愈小。也就是说工件愈薄，胶片贴得愈紧，清晰度愈好，射线源愈小，焦距愈大，清晰度愈好。

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