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   检测常识

【射线照相的原理】 >>返回上一页 
 

  射线照相法是利用射线透过物质时,会发生吸收和散射这一特征,通过测量材料中因缺陷存在影响射线的吸收来探测缺陷的。X射线和γ射线通过物质时,其强度逐渐减弱。一般认为是由光电效应引起的吸收、康普顿效应引起的散射和电子对效应引起的吸收三种原因造成的。射线还有一个重要性质,就是能使胶片感光,当X射线或γ射线照射胶片时,与普通光线一样,能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜象中心,经过显影和定影后就黑化,接收射线越多的部位黑化程度越高,这个作用叫做射线的照相作用。因为X射线或γ射线使卤化银感光作用比普通光线小得多,所以必须使用特殊的X射线胶片,还使用一种能加强感光作用的增感屏。

  射线照相的探伤原理为,厚度为T毫米的物体中有厚度为ΔT毫米的缺陷时,x射线透过无缺陷部位的底片的黑度为D,而x射线透过有缺陷部位的底片黑度应为D+ΔD。把这种曝过光的胶片在暗室中经过显影、定影、水洗和干燥。再将底片在观片灯上观察,根据底片上有缺陷部位与无缺陷部位的黑度图象不一样,就可判断出缺陷的种类、数量、大小等结构内部的信息。这就是射线照相探伤的原理。

 

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